HC-10型多能測(cè)厚儀是專門用于測(cè)量剛性和非剛性軟類物體的多用途量具;它既不損傷被測(cè)物體的表面,又能得到精確的測(cè)量數(shù)據(jù),可廣泛用于測(cè)量片劑、糖衣片、薄膜衣片、浸膏片、丸粒等藥物的直徑和厚度,還可測(cè)量膠囊的壁厚和藥物包裝薄膜的厚度。隨機(jī)的百分表附有CMC計(jì)量合格證,本量?jī)x適用于生產(chǎn)*線,質(zhì)量管理和科研實(shí)驗(yàn)室等部門。
JZ-200一體兩用涂層測(cè)厚儀是渦流便攜式測(cè)厚儀,它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)*的儀器。
﹡ D-MP0型涂層測(cè)厚儀符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4956和GB/T4957,可用于生產(chǎn) 檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)及質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。 ﹡ 采用雙功能內(nèi)置式探頭,自動(dòng)識(shí)別鐵基或非鐵基體材料,并選擇相應(yīng)的測(cè)量方 式進(jìn)行精確測(cè)量。 ﹡ 符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)的雙顯示屏結(jié)構(gòu),可以在任何測(cè)量位置讀取測(cè)量數(shù)據(jù)。 ﹡ 采用手機(jī)菜單式功能選擇方式,操作十分簡(jiǎn)便。 ﹡ 可設(shè)定上下限值,測(cè)量結(jié)果超出或符合
儀器適于測(cè)量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測(cè)量鋁合金型材表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度,還可用于測(cè)量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度,測(cè)量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度,測(cè)量塑料薄膜及紙張厚度。
超聲波測(cè)量厚儀根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的,當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí),脈沖被反射回探頭,通過精確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量,如金屬類、塑料類、陶瓷類、玻璃類。
涂層測(cè)厚儀可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體(如鐵和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等) 及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。涂鍍層測(cè)厚儀具有測(cè)量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn),是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量*的檢測(cè)儀器,廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。
涂層測(cè)厚儀可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體(如鐵和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等) 及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。涂鍍層測(cè)厚儀具有測(cè)量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn),是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量*的檢測(cè)儀器,廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。
測(cè)量物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來(lái)連續(xù)測(cè)量產(chǎn)品的厚度(如鋼板、鋼帶、紙張等)。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計(jì);有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計(jì);有利用渦流原理的電渦流厚度計(jì);還有電容式厚度計(jì)等。而利用微波和激光技術(shù)制成厚度計(jì),目前還處在研制、試驗(yàn)階段。
測(cè)量物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來(lái)連續(xù)測(cè)量產(chǎn)品的厚度(如鋼板、鋼帶、紙張等)。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計(jì);有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計(jì);有利用渦流原理的電渦流厚度計(jì);還有電容式厚度計(jì)等。而利用微波和激光技術(shù)制成厚度計(jì),目前還處在研制、試驗(yàn)階段。
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